期刊刊名:管理科學研究特刊 卷期:2期(2007)
篇名出版日期:2007年12月1日
作者:曾信超,許淑卿,郭信霖
語言:Chinese
關鍵字:弱度能力指標,信用區間,非情報事前分配,共軛事前分配,韋伯故障率函數
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摘要: 製程能力指標是常用來評估製造產業的能力,提供測量製程績效重要的量測方法;而傳統方法大部分是從頻率學派的觀點得到。在本文我們以貝氏方法(Bayes Approach)分別針對非情報事前分配(non-informative prior)、共軛事前分配(Conjugate Prior)與韋伯故障率函數(Weibull Hazard Function)求其有關弱度能力指標的點估計與在一般情形下μ≠T的100×p%的信用區間。依據貝氏的方法,我們需先確定一個有關參數適當的事前分配,以得到其事後分配;並且在平方誤差損失函數(Squared-Error Loss Function)下,製程能力指標之事後機率的期望值就是其貝氏估計。
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