期刊刊名：大葉學報 　 卷期：10卷1期

篇名出版日期：2001年6月1日

作者：周寶華,胡永柟,鍾翼能,周政南,劉婉君

語言：Chinese

關鍵字：逆向工程,邏輯,reverse engineering, logic, PLD, EPLD, PAL, GAL, PEEL

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摘要：
本研究主要在探討逆向工程的關鍵技術，先就元件本身的表象來分析與論證可程式邏輯元件（PLD）使用非破壞性的方法來做逆向還原、再造的可能性，然後以學理求證可程式邏輯元件之逆向工程確實可行。最後，再以實驗的方法設計治具進行分析，得到的結果後與原始晶片進行比對，以證明使用非破壞的方法進行可程式邏輯元件的逆向工程是正確的。本文針對電子、電機、資訊業常用的可程式邏輯元件，進行逆向工程之研究，範圍涵蓋了下列四種目前在市場應用廣泛的主流元件：1. PAL（programmable array logic）2. EPLD（erasable programmable logic device）3. GAL（generic array logic）4. PEEL（programmable electrically erasable logic）逆向工程在國防軍事上或是商業用途都是很重要的，培養優秀的逆向工程人才，深入了解各種電子元件的內部運作，更是建設台灣成為綠色矽島的重要課題。

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