期刊刊名：正修學報 卷期：28期
篇名出版日期：2015年12月1日
作者：林宜賢,黃新賢
語言：Chinese
關鍵字：自動量測,機器視覺,次像素,Automatic Measurement, Machine Vision, Subpixel
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摘要： 本研究是以CCD攝影機為基礎的量測系統結合機械視覺技術來發展一套可以自動作QFN (Quad Flat No leads) IC的外觀尺寸的量測系統，量測的項目包括QFN IC長度、寬度、腳間寬及計算其偏差位移值(Offset)等項目。為了提高量測的精準度，本研究使用次像素的技術來減少量測誤差。經實驗證實本研究開發的QFN自動量測系統可達到高精確度及穩定性的目標，且能符合產業界品管精度的要求。
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