+ 陳永珍
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A Powerful Electrical Probing Method to Detect the Kink Effect of MOSFET Devices=一種強有力的電子量測法以偵測場效電晶體元件的捲縮效應MU-CHUN WANG, HOU-MING CHEN, CHENG-TSUN TSAI, YUNG-CHEN CHEN,LIANG-TE LU,王木俊,陳厚銘,蔡政村,陳永珍,呂良德大葉學報 13卷1期1992/12/1